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TMS 透過率光譜分析儀
TMS 透過率光譜分析儀能快速準(zhǔn)確地測量各類平⾯、球⾯、⾮球⾯等光學(xué)元件的透過率，可⽤于實(shí)時(shí)顯⽰單、多點(diǎn)波⻓透過率數(shù)據(jù)及指定波段平均透過率數(shù)據(jù)。適⽤于⼿機(jī)蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡膠合鏡、平⾏平板、太陽膜、濾光⽚等平⾯、球⾯⾮球⾯光學(xué)元件及組合鏡頭等的檢測。
儀器特點(diǎn)
1. 球⾯、⾮球⾯、塑料制品散透射等測量；
2. 測試速度極快，眼秒出結(jié)果，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢；
3. 極小樣品的透過率檢測。
測量對象
數(shù)字相機(jī)視頻對焦
技術(shù)參數(shù)
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